科技日報訊 (記者趙漢斌)8月13日，記者從中國科學(xué)院云南天文臺獲悉，該臺高級工程師張雪飛等人利用麗江觀(guān)測站100毫米日冕儀，研究了鏡面塵埃引起的雜散光對日冕像的影響及其修正方法。該研究有助于更精確地分析日冕強度、結構變化趨勢，也將助力我國未來(lái)大口徑日冕儀的研發(fā)。相關(guān)研究成果發(fā)表于《光子學(xué)報》。

　　日冕是太陽(yáng)大氣的最外層。在可見(jiàn)光波段，日冕的亮度只有太陽(yáng)光球的百萬(wàn)分之一，因此在一般情況下它都難以被觀(guān)測到。只有在日全食期間，太陽(yáng)光球被月球完全遮擋時(shí)，人們才能短暫地看到日冕。

　　但一種特殊的天文儀器——日冕儀，讓人們得以在太陽(yáng)落山前隨時(shí)觀(guān)測日冕。日冕儀可通過(guò)遮擋盤(pán)制造人造日食。但由于日冕亮度極低，任何來(lái)自它之外的雜散光都會(huì )極大影響觀(guān)測效果。受這些光的影響，不同時(shí)間觀(guān)測到的日冕圖像中會(huì )有不同程度的散射背景，它們會(huì )影響日冕數據質(zhì)量，給暗弱日冕結構的分析以及日冕圖像強度定標等工作帶來(lái)極大不便。研究人員希望找到日冕儀鏡面塵埃與其形成的散射背景之間的定量關(guān)系，并將散射背景從日冕圖像中去除。

　　張雪飛等人利用該臺麗江觀(guān)測站100毫米日冕儀實(shí)測，分別得到了物鏡表面塵埃擦除前后的日冕圖像與物鏡圖像，隨后他們將兩日冕像做差，得到塵埃散射背景。數據表明，散射背景強度沿徑向線(xiàn)性衰減；同時(shí)，通過(guò)提取物鏡圖像上塵埃散射點(diǎn)總強度，得到塵埃信息。他們發(fā)現，塵埃散射點(diǎn)總強度與散射背景線(xiàn)性衰減系數有較強相關(guān)性，并由此擬合出散射背景與塵埃之間的定量關(guān)系，對日冕圖像進(jìn)行修正，首次得到了不含塵埃散射雜散光的日冕圖像，提高了數據質(zhì)量。

　　該研究成果對內掩式日冕儀廣泛適用，可為其他地基日冕儀圖像高精度定標提供重要參考，并將助力更加精確地分析日冕結構和日冕強度衰減趨勢，為未來(lái)日冕儀對日冕磁場(chǎng)常規測量提供更可靠的觀(guān)測數據。此外，該研究積累的技術(shù)也將加深研究人員對日冕儀內部其他雜散光源特性的理解，助力日冕儀雜散光抑制技術(shù)取得新突破。